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X射線無損鍍層測厚儀：能量X熒光光譜側(cè)厚法(質(zhì)量膜厚)

測試原理：X射線無損鍍層測厚儀是通過X射線激發(fā)各種物質(zhì)（如Mo、Ag、Mn）的特征X射線，然后測量這被釋放出來的特征X射線的能量對(duì)樣品進(jìn)行進(jìn)行定性，測量這被釋放出來的特征X射線的強(qiáng)度與標(biāo)準(zhǔn)片（或者對(duì)比樣）對(duì)比得出各物質(zhì)的厚度，這種強(qiáng)度和厚度的對(duì)應(yīng)關(guān)系在軟件后臺(tái)形成曲線。而各種物質(zhì)的強(qiáng)度增加，厚度值也增加，但不是直線關(guān)系；通過標(biāo)樣和軟件及算法（算法有FP法和經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法）得到一個(gè)接近實(shí)際對(duì)應(yīng)關(guān)系的曲線.

X射線無損鍍層測厚儀器特點(diǎn) 

1、鍍層分析快速、無損，對(duì)樣品無需任何處理。一般測試一個(gè)點(diǎn)只需要數(shù)10秒~3分鐘，分析高。

    X射線無損鍍層測厚儀是光物理測量，其對(duì)測試樣品不會(huì)產(chǎn)生任何的物理、化學(xué)變化，因此，其屬于無損測量。同時(shí)對(duì)測試的樣品不需要任何處理，分析速度更加快捷。

2、可測試超薄鍍層，如：在測試鍍金產(chǎn)品時(shí)，可測試0.01米的鍍層厚度，這是其他測厚設(shè)備無法達(dá)到的。

     X熒光通過射線的方式來檢測鍍層的厚度，因此，其對(duì)樣品的表面物質(zhì)測試為靈敏，因此，其非常適合測試超薄鍍層，也是目前超薄鍍層常用的測量方法。

3、可測試多鍍層，分析遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于其他測量方法。

X射線具有一定的穿透能力，因此，在測試鍍層時(shí)，它可以穿透多層鍍層，通過每層鍍層產(chǎn)生的特征X射線計(jì)算其厚度，并可分析其鍍層的組成。

4、可分析合金鍍層厚度和成分比,這是其他測厚設(shè)備不能做到的。   

5、對(duì)于樣品可進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測量，適合分析鍍層的厚度分布情況并可以對(duì)樣品的復(fù)雜面進(jìn)行測量。

    由于X熒光的無損分析方法，同時(shí)儀器高度的自動(dòng)化控制技術(shù)，保證測試中可以進(jìn)行連續(xù)多點(diǎn)測量，不但提高測試效率，同時(shí)可以分析測試樣的厚度分布情況。

6、對(duì)分析的多鍍層每層之間的材料，要求有明顯的區(qū)別，即，每層樣品元素有明顯的差別。

     由于X熒光是通過特征X射線，對(duì)被測樣品進(jìn)行厚度分析的，因此每層鍍層的材料應(yīng)有明顯的區(qū)別。

7、不可以測試超厚樣品，普通金屬鍍層總厚度一般不超過30微米。根據(jù)各種元素的能量不同，測量范圍都不相同. 

8、可以對(duì)極小樣品進(jìn)行測試，例如：螺絲、電路板焊盤、接插件的插針等。可以將X射線照射在樣品的光斑調(diào)到很小的地步（可以達(dá)到微米級(jí)，因此，超小樣品的測試非常容易。

9、屬于對(duì)比分析儀器，測試不同的鍍層樣品需要不同的鍍層標(biāo)樣，雖然有FP法的測試軟件，但在精準(zhǔn)測試中，一定需要標(biāo)準(zhǔn)樣品進(jìn)行校對(duì)，因此，企業(yè)應(yīng)用中采用標(biāo)樣校對(duì)的方法是常見的。

天瑞Thick800AX熒光鍍層測厚儀

儀器介紹

Thick800A是天瑞集多年的經(jīng)驗(yàn)，專門研發(fā)用于鍍層行業(yè)的一款儀器，可全自動(dòng)軟件操作，可多點(diǎn)測試，由軟件控制儀器的測試點(diǎn)，以及移動(dòng)平臺(tái)。是一款功能強(qiáng)大的儀器，配上專門為其開發(fā)的軟件，在鍍層行業(yè)中可謂大展身手。

應(yīng)用領(lǐng)域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。

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